加了静电二极管但测试依然不过，绝大多数情况下不是器件质量问题，而是选型或布局出了问题。根据我们的整改经验，主要有以下几种情况：
第一，钳位电压（VC）选得太高。 这是最常见的失效原因。静电二极管导通后会把电压钳制在一个固定值，如果这个钳位电压高于被保护IC的最大耐受电压，芯片照样会被击穿。选型时一定要查核心IC的datasheet，确保VC值远低于IC的耐压极限。
第二，工作电压（VRWM）匹配错误。 如果VRWM选得低于线路实际工作电压，二极管在正常工作时就会处于临界导通状态，产生过大漏电流，甚至误导通。比如5V的信号线，VRWM至少要选5V或以上。
第三，结电容被忽视了。 高速接口（USB 3.0、HDMI、MIPI等）如果用了结电容过大的ESD管，信号会严重衰减，甚至导致误码率飙升。USB 2.0一般可接受5pF以下，但USB 3.0/HDMI要求1pF以下。
第四，布局不合理。 这是很多工程师容易忽略的环节。ESD二极管必须紧贴接口放置，走线长度建议控制在3cm以内。接地路径要短、直、粗，否则会产生寄生电感，导致实际钳位电压远高于标称值。
所以，加了器件不等于就能过测试，选型和布局缺一不可。
